X-射线衍射法又分为粉末衍射和单晶衍射两种，前者主要用于结晶物质的鉴别及纯度检查，后者主要用于分子量和晶体结构的测定。
PXRD（X射线粉末衍射法)已广泛应用于不同晶型混合物的定量分析和结晶度的确定。利用该方法所测得的每一种晶体的衍射线强度和分布都有着特殊的规律，以此可得出晶型变化、结晶度、晶构状态、是否有混晶等信息。在应用该方法时，应注意粉末的细度，在制备样品时需特别注意研磨过筛时是否发生转晶变化。研究方法主要有单峰法、多峰法和全谱法。
SXRD(分单晶X射线衍射法)分析对象为单晶，原理是利用X射线对晶体产生的衍射效应，其分析数据代表了某种晶型纯品的结果，SXRD法可以揭示供试品晶型成因，给出晶型物质的晶体学各种定量数据。采用SXRD分析数据，通过理论计算获得100%晶型纯品的PXRD图谱和数据，作为晶型物质标准图谱。
XRD是X射线衍射仪的简称。其基本原理是:当X射线照射所测物质（晶体），相应晶面会产生衍射强度。随着发射X射线的转轴移动，不同角度的不同晶面会被完全扫描出来。从而根据布拉格方程2d sinθ=nλ，呈现出图谱。广角XRD一般指3°~80°，甚至是更高的度数，一般用来判断某种材料的物相，即是什么物质。而小角XRD一般是指0°~3°的测试范围，在该范围内对应的晶面一般是层间，即（00X）晶面，一般用来比较改性物质前后该晶面的层间距变化。
