1. 聚焦成像 (focusd imaging, FI)
传统超声成像采用聚焦波束对成像物体进行扫描，称为聚焦成像 (focused imaging, FI). FI连续移动激励有效孔径内全部阵元，每次生成一条扫描线，最后组成一幅图像。FI生成的图像中仅发射聚焦点深度处分辨率最高，其他位置的分辨率明显较差，而超声图像需要在聚焦点外位置处也同时具有高的图像质量。此外，由于需要对整个ROI进行扫描，FI需要较多的扫描时间，降低了成像的帧率。
2. 平面波成像(plane wave imaging, PWI)
平面波成像(plane wave imaging. PWI)全部阵元同时发射，形成一个平面波前。由于一次发射接收就可以生成一幅超声图像，PWI 成像帧频高，极大地提高了成像速度。但缺点是缺少聚焦，单次生成的超声图像分辨率和对比度较差，还伴随一 些伪影。因此，通常采用相干平面波复合(coherent plane-wave compounding, CPWC)成像作，通过在不同角度上发射平面波来复合成像，提高成像质量。
(A) FI成像基本原理; (B) CPWC成像基本原理
3. 发散波成像(diverging wave imaging, DWI)
通过对有效发射孔径的阵元施加一定的延时,在阵列后方形成一个虚拟的聚焦点，发射的波前是一个弧面。DWI的缺点与PWI相似，单次DWI的发射波束没有聚焦，会产生更多的干扰和伪影。
DWI成像基本原理
4.合成发射孔径(synthetic transmit aperture, STA)
连续依次对单个阵元发射覆盖整个图像区域的球面波，然后所有阵元进行接收，每次生成一幅低精度图像。通过对每次接收生成的一系列低质量图像相干复合，最终得到一个高分辨率图像。
STA成像基本原理
在STA成像中，可以使用虚拟源提高图像质量，使用虚拟源计算发射接收延时如下：
虚拟源在F处
receive delay接收延时：
接收延时计算
transmit delay发射延时:
发射延时计算
总延时
总延时计算
其中，Vk表示虚拟源的位置，Xk表示发射孔径的中心
Field II成像仿真结果如下：虚拟源设置在z=30mm处
合成发射孔径-虚拟源成像
